Qhov sib txawv ntawm metallographic thiab electron microscopes
Cov ntsiab cai ntawm Scanning Electron Microscopy
Scanning Electron Microscope, abbreviated li SEM, yog ib qho kev ua haujlwm nyuaj; nws condenses electron optical technology, nqus tshuab, zoo mechanical qauv thiab niaj hnub computer tswj technology. Lub tshuab ntsuas hluav taws xob siv hluav taws xob khaws cov khoom siv hluav taws xob tawm los ntawm rab phom electron mus rau hauv lub teeb hluav taws xob zoo los ntawm ntau theem electromagnetic lens nyob rau hauv qhov kev txiav txim ntawm kev ceev hluav taws xob siab. Luam theej duab saum npoo ntawm tus qauv los txhawb ntau yam ntaub ntawv, thiab tshuaj xyuas qhov chaw ntawm tus qauv los ntawm kev txais, nthuav tawm thiab nthuav tawm cov ntaub ntawv. Kev sib cuam tshuam ntawm qhov xwm txheej electrons nrog cov qauv ua rau cov hom ntaub ntawv qhia nyob rau hauv daim duab 1. Qhov ob-dimensional siv tis ntawm cov ntaub ntawv no hloov nrog cov yam ntxwv ntawm tus qauv nto (cov yam ntxwv no muaj xws li nto morphology, muaj pes tsawg leeg, siv lead ua orientation, electromagnetic zog. . Yog hais tias lub teeb liab tau txais los ntawm lub ntes yog digitized thiab hloov mus rau hauv lub teeb liab digital, nws tuaj yeem ua tiav ntxiv thiab khaws cia los ntawm lub computer. Lub tshuab ntsuas hluav taws xob siv hluav taws xob feem ntau yog siv los soj ntsuam cov qauv tuab nrog qhov siab loj qhov sib txawv thiab roughness, yog li qhov tob ntawm cov nyhuv ntawm thaj chaw yog qhov tseem ceeb hauv kev tsim, thiab nws feem ntau yog siv los tshuaj xyuas cov pob txha thiab cov npoo ntuj uas tsis tau ua tiav.
Electron Microscope thiab Metallographic Microscope
1. Cov teeb pom kev sib txawv: metallographic microscopes siv lub teeb pom kev zoo li lub teeb pom kev zoo, thiab cov tshuab ntsuas hluav taws xob siv hluav taws xob siv hluav taws xob ua lub teeb pom kev zoo.
2. Lub hauv paus ntsiab lus txawv: lub tshuab ntsuas metallographic siv lub hauv paus ntsiab lus ntawm geometric optical imaging rau imaging, thiab scanning electron microscope siv high-zog electron beams los bombard tus qauv nto los txhawb ntau yam kev taw qhia ntawm lub cev ntawm tus qauv nto, thiab ces siv sib txawv. teeb liab ntes kom tau txais lub cev lub cev thiab hloov mus rau hauv cov ntaub ntawv duab.
3. Qhov kev daws teeb meem sib txawv: vim muaj kev cuam tshuam thiab qhov sib txawv ntawm lub teeb, qhov kev daws teeb meem ntawm lub tshuab ntsuas metallographic tsuas tuaj yeem txwv rau 0.2-0.5um. Vim tias lub tshuab ntsuas hluav taws xob siv hluav taws xob siv cov kab hluav taws xob ua lub teeb ci, nws qhov kev daws teeb meem tuaj yeem ncav cuag ntawm 1-3nm. Yog li ntawd, cov ntaub so ntswg soj ntsuam ntawm metallographic microscope belongs rau micron-scale tsom xam, thiab cov ntaub so ntswg soj ntsuam ntawm scanning electron microscope belongs rau nano-scale tsom xam.
4. Qhov tob ntawm qhov sib txawv: qhov tob ntawm thaj chaw ntawm lub tshuab ntsuas metallographic dav dav yog nyob nruab nrab ntawm 2-3um, yog li nws muaj qhov xav tau siab heev ntawm qhov smoothness ntawm qhov chaw ntawm tus qauv, yog li cov qauv npaj txheej txheem kuj tseem nyuaj. Lub tshuab ntsuas hluav taws xob ntsuas hluav taws xob muaj qhov tob ntawm qhov loj, qhov loj ntawm qhov pom, thiab cov duab peb sab, uas tuaj yeem ncaj qha saib cov qauv zoo ntawm qhov tsis sib xws ntawm ntau yam qauv.
